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    강성호
    Position 교수
    Current Department 연세대학교(신촌) 공과대학 전기전자공학과
    프로필
    연구 성과
    논문[255]
    #255. Scan Chain Architecture with Data Duplication for Multiple Scan Cell Fault Diagnosis
    Journal Information 2022.11.25 · IEEE Transactions on Computer-aided Design of Integrated Circuits and Systems
    Identifier (DOI) https://doi.org/10.1109/tcad.2022.3224899
    #254. Shift Left Quality Management System (QMS) Using a 3D Matrix Scanning Method on System on a Chip
    Journal Information 2022.10.21 · IEEE Transactions on Circuits and Systems Ii: Express Briefs
    Identifier (DOI) https://doi.org/10.1109/tcsii.2022.3216346
    발표[505]
    #505. 로직비스트에서 클락 게이팅 셀을 이용한 캡쳐 파워 감소
    Organization 제22회 한국 테스트 학술대회
    Date 2021
    #504. A Circular-based TSV Repair Architecture
    Organization International SOC Design Conference (ISOCC 2021)
    Date 2021
    특허[44]
    #44. TSV 테스트 장치를 포함하는 반도체 장치 및 이의 동작 방법
    Patent Country 대한민국
    #43. 보안 스캔 체인 회로 및 스캔 체인 회로 보안 방법
    Patent Country 대한민국
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